這兩種試驗(yàn)箱都是給產(chǎn)品做高低溫的試驗(yàn)。但是他們有一個(gè)根本的區(qū)別是高低溫試驗(yàn)箱是看產(chǎn)品在降溫的過程中感測(cè)到產(chǎn)品的變化而冷熱沖擊試驗(yàn)箱就沒有這個(gè)降溫過程，它是使產(chǎn)品瞬間的感測(cè)到溫度的變化而變化的.
高低溫試驗(yàn)箱用于電工、電子產(chǎn)品、元器件、零部件及其材料在高低溫環(huán)境下儲(chǔ)存、運(yùn)輸和使用時(shí)的適應(yīng)性試驗(yàn)，以及溫度漸變?cè)囼?yàn)。還可以對(duì)電子元器件進(jìn)行應(yīng)力篩選試驗(yàn)。
冷熱沖擊試驗(yàn)箱主要是針對(duì)于電工、電子產(chǎn)品整機(jī)及零部件進(jìn)行耐寒試驗(yàn)、溫度快速變化或漸變條件下的適應(yīng)性試驗(yàn)箱，特別適用于進(jìn)行電工、電子產(chǎn)品的環(huán)境應(yīng)力篩選（ESS）試驗(yàn)。該試驗(yàn)設(shè)備主要用于對(duì)產(chǎn)品按照國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)要求或用戶自定要求，在高溫與低溫瞬間變化條件下，對(duì)產(chǎn)品的物理以及其他相關(guān)特性進(jìn)行環(huán)境模擬測(cè)試，測(cè)試后，通過檢測(cè)，來判斷產(chǎn)品的性能，是否仍然能夠符合預(yù)定要求，以便供產(chǎn)品設(shè)計(jì)、改進(jìn)、鑒定及出廠檢驗(yàn)用。
